文部科学省 マテリアル先端リサーチインフラ(計測・分析)
Advanced Research Infrastructure
for Materials and Nanotechnology in Japan
(ARIM Japan)

京都大学 化学研究所 (宇治市五ヶ庄) / 実施責任者:治田　充貴

News / Events

  • new令和6年度 装置講習会 「極低温高分解能透過電子顕微鏡 装置講習会」[⇒案内チラシ[PDF]]
    日時
    令和6年12月4日(木)　13:30 ～ 17:00
    主催
    京大 マテリアルリサーチインフラ (計測・分析)
    場所
    京都府宇治市五ケ庄
    京都大学 化学研究所 32. 超高分解能分光型電子顕微鏡棟
    対象
    最先端計測と微細構造解析に興味をお持ちの方、装置利用や支援依頼をご検討の方など
    内容
    今回は液体ヘリウム温度で試料観察が可能な極低温電子顕微鏡(KT-401)を用いてデモ試料で実演・実習を行います。試料の持ち込みも可能ですのであらかじめご相談下さい（初回に限る・先着順・観察時は他の参加者も同席します）
    参加費
    無料
    定員
    3名 　 　
    参加申し込み
    申込締切 11/22, 定員になり次第締め切ります。E-mail にて、arim@eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp まで、「氏名（ふりがな）」「所属」「連絡先」をご連絡下さい。
  • 募集終了令和6年度 技術説明会 「最先端計測と微細構造解析」 [⇒案内チラシ[PDF]]
    　　　定員に達しましたので募集を締め切ります
    日時
    令和6年11月15日(金)　13:00 ～ 15:00
    主催
    京大 マテリアルリサーチインフラ (計測・分析)
    場所
    京都府宇治市五ケ庄
    京都大学 宇治キャンパス 32. 超高分解能分光型電子顕微鏡棟
    対象
    最先端計測と微細構造解析に興味をお持ちの方、装置利用や支援依頼をご検討の方など。今回はEELSに関する講義を中心に実施します。
    参加費
    無料
    定員
    2名
    参加申し込み
    申込締切 11/8, 定員になり次第締め切ります。E-mail にて、arim@eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp まで、「氏名（ふりがな）」「所属」「連絡先」をご連絡下さい。
  • 2023年7月より料金を一部改訂いたしました。最新の料金表をご確認下さい。

過去のイベントも表示

文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ 実施概要

  • 「マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）」では、以前のナノテクノロジープラットフォーム事業と同様同様の共用事業を開始しております。ARIMでは、文科省の方針として新たにデータ収集・利活用のミッションが増えました。 これは装置共用で得られたデータを利活用のために提供を促す活動で、提供いただけるかどうかで利用料金に差がつくことになりました。
  • まだデータ提供に関する詳細は未定な部分が多いのですが、今のところ観察データとサンプルに関する情報（名前や組成など）を考えております。当面（1～2年程度）は、データをこちらのハードディスクに保管しておくだけとなりますが、事業の体制が整備されてきましたら、利活用のためのデータベース構築に提供いただくことになります。
  • 利用料金につきましては、簡易料金表をご覧いただき、担当者または事務局までお問い合わせください。

提供する最先端共用設備

極低温高分解能透過電子顕微鏡 (JEM-2100F(G5))
[Photo TEM2] 試料を液体ヘリウムにより冷却することにより、試料温度 4.2 Kでの電子回折パターンの撮影や高分解能電顕像観察(格子分解能: 0.2 nm)を行うことにより、電子線による試料の損傷を極力低減した微細構造情報の取得とその解析の支援を行います。
球面収差補正透過電子顕微鏡(JEM-2200FS + CEOS CETCOR)
[Photo TEM1] 対物レンズの球面収差係数を補正することにより、原子分解能レベルの高分解能観察の支援を行います。また、インコラム型のオメガフィルターが搭載されており、電子エネルギー損失スペクトルによる元素分析やマッピングの支援も行います。
モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 (JEM-ARM200F)
[Photo TEM3] EDX による原子分解能元素マッピング、高エネルギー分解能のEELS測定などが可能です。
試料作製装置群
[Photo FIB] 集束イオンビーム装置 、ミクロトーム、精密イオン研磨装置、クライオイオンスライサによる電子顕微鏡用試料作製の支援を行います。
装置詳細

プラットフォーム利用法について

利用の流れ

  1. 利用にあたりましては、まずは概要について下記連絡先までご相談下さい。 利用装置や分析法、目的との適合性等について検討させていただきます。
  2. その後、利用申請書をご記入いただき、e-mail にて送付ください。 　
    • データ提供ありの料金プランを選択される場合には、あらかじめ NIMS の DICE アカウントを取得し、アカウント名(メールアドレス)を申請書に記入して下さい。MatNavi 等ですでにアカウントをお持ちの方はそのアカウントを利用することができます。
      ⇒ DICE アカウント登録サイト
      ⇒ [PDF]アカウント登録手順
  3. 簡単な審査の後、１週間以内を目途に利用の可否を連絡させていただきます。
  4. 担当者より、スケジュール調整や試料作製などについて連絡させていただきます。
  5. [データ提供ありの場合] 原則として装置利用直後に主たるデータ（画像,スペクトル）を NIMS RDE にアップロードしていただきます。
  6. [成果公開ありの場合] 申請した課題の終了後、利用報告書の記入をしていただきます。過去の事例につきましては下記の参考資料の公開済み利用報告書をご覧ください。提出した報告書は広く一般に公開されます（アカウント申請などなく閲覧可能になります）

利用申請書 (Excel形式)

[PDF]簡易料金表 (PDF)

⇒ 料金シミュレータ―

⇒ [PDF]利用の流れ(PDF)

補足事項
内規集
参考資料

連絡先

〒611-0011 京都府宇治市五ヶ庄
京都大学　化学研究所　複合ナノ解析化学内
マテリアル先端リサーチインフラ(計測・分析)
arim@eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp
0774-38-3051 / FAX 0774-38-3055

アクセス キャンパスマップ (建物番号 32)

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