ARIM利用料金シミュレーター

京大マテリアルリ先端リサーチインフラ(計測・分析) 利用料金の簡易見積りが できます。

料金システムは装置利用時間をベースとした計算になっており、 成果報酬制ではありません。失敗した場合、 完了しなかった場合でも利用料金がかかりますのであらかじめ御了承下さい。

本ページは、利用者の便宜のため設置しておりますが、実際の請求額とは完全には一致しない場合があります。不明な点は事務局宛にお問い合わせ下さい。

装置の性質上、一部の機器では半日ないし1日単位のご利用となる場合があります。


利用条件の入力

利用者の所属
利用形態
成果公開
利用装置
利用時間 時間 (最大8時間/日)

利用料金の予測

料金タイプ ? 係数値 ??%
装置 ?
基本料金 ?円/時間 × 係数? = ? 円/時間
(? 円/時間 ?) × ?時間 = ?

当方の高額消耗品を使用される場合は別途実費相当額をいただきます

利用時間の目安

特に記載がない場合、1サンプルあたりの時間となります。また、試料の種類や状態、観察面積、分析の目的などによって大きく変化する場合があります。例えば、単純なTEM観察であっても、試料の観察可能領域が少なかったり汚染されている場合などでは観察可能な場所を探すのに数時間で観察自体は数分、というような場合もあります。

利用形態につきましては、初回利用時は技術代行または技術補助による利用をお願いしております。2回目以降、当方が認めた場合に装置利用に切り換えることができます。

KT-401 極低温高分解能透過電子顕微鏡:
前日準備2時間 + 1日6時間あたり数サンプル (本装置の利用形態は技術代行のみとなります)
KT-402 球面収差補正透過電子顕微鏡
4-8時間 程度
KT-403 モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡
原子分解能観察/高精度分析 8時間程度
低倍率観察/分析 4時間程度
KT-405 ミクロトーム
TEM試料作製 3時間程度
KT-406 精密イオン研磨装置
TEM試料仕上げ 4時間程度
KT-408 デュアルビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)
表面観察 1時間程度
断面観察 2時間程度
EDS分析 2時間程度
EBSD分析 4時間程度
TEM試料作製 4-6時間程度
3D 観察 10-50時間程度
KT-409 イオンスライサー
FIB仕上げ加工 1時間程度
TEM試料作製(前処理工程を除く) 4時間程度